Application Test Pattern 분석 알고리즘 개발 

직책 : 연구 책임자

기간 : 2019. 08. ~ 2020.01.

연구 필요성

DRAM의 application test 공정은 실제 고객이 사용하는 실장기를 이용하여 제품을 test하는 공정이다. Auto Test Equipment (ATE)를 이용하여 제품을 test하는 공정은 엔지니어가 규정한 동작 및 물리적 주소체계로 test되는 반면, application test는 고객 system의 주소체계 및 운영이 이루어져 DRAM module의 test pattern 파악이 필요하다. 현재 application test pattern 파악을 위해 엔지니어가 manual로 분석하는 현 방식에서는 전체 pattern을 파악하기에는 한계가 있다.

연구 목적 및 내용

고객 시스템이 DRAM module에 보내는 동작을 추출하는 논리 분석기를 통해 얻은 데이터에서 sequential pattern mining을 적용하여 패턴을 파악할 수 있는 알고리즘을 개발하고자 한다.

기대 효과

Application level에서의 DRAM 동작에 대한 이해를 높일 수 있고, 빈번하게 발견되는 pattern을 추출하여 오류 분석 시간을 획기적으로 줄임과 동시에 알지 못했던 오류에 대한 개선안을 DRAM 설계에 적용할 수 있다.